支援万用测试机(4/6/8/12倍密度)及多种复合式治具制作。
支援 HDI 及 IC 载板之 None-Grid 二线式及四线式之线针治具制作。
支援客制化 Share Grid 测试方式。
提供开放式治具架构设计。
所有洒针皆考量三维应力平衡，提高测试稳定性。
